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题名：半导体材料测试与分析
著者：杨德仁等著
著者单位/学院（系）：材料科学与工程学院
出版地：北京
出版者：科学出版社
出版时间：2010
ISBN：9787030270368
文库排架号：80/4722/2010
索书号：TN304.07/CY1
资源类型：图书